超大视场介官双光子显微镜
双通道共定位纳米颗粒示踪分析仪
结构光照明荧光超分辨显微镜
大视场高分辨光层析显微镜
低温显微物镜
大视场显微物镜
宽波段显微物镜
高NA显微物镜
图像全站仪测量系统
四目立体视觉位姿测量仪
纳星敏物镜
偏心间隔一体化测试仪
非接触光学元件测试仪
套刻精度量测
晶圆缺陷检测
掩膜检测与修复
AOI检测
照明系统
其它深度定制物镜
自动光学检测（AOI）技术近年来迅速发展，用于提高生产线上的检测速度和精度。齐之明设计开发的超大视野、长工作距显微物镜不仅能实现大面积目标上的高分辨率成像，还能在多种复杂环境下捕捉清晰图像，提供稳定的成像性能以满足高效检测需求。该物镜适应现代半导体制造业的高产能要求。
